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À FORCE ATOMIQUE AFM Voir l'article

Microscope à force atomique

Le microscope à force atomique permet de mesurer la topographie de la surface de la matière jusqu’à la résolution atomique.

À EFFET TUNNEL STM Voir l'article

MICROSCOPE À EFFET TUNNEL (STM)

Le microscope à effet tunnel permet de mesurer les reliefs de la surface des métaux, la position des atomes, et même les caractéristiques des électrons du métal.

ÉLECTRONIQUE à TRANSMISSION TEM Voir l'article

MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À TRANSMISSION (TEM)

Le microscope électronique à transmission permet d’obtenir une image agrandie d’échantillons très minces et d’en analyser la composition.

ÉLECTRONIQUE à BALAYAGE MEB Voir l'article

MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE (MEB)

Le microscope électronique à balayage permet d’obtenir une image fortement agrandie de la surface d’échantillons épais, mais aussi d’en analyser la composition

FLUORESCENT ET CONFOCAL Voir l'article

Microscope à fluorescence et confocal

Le microscope à fluorescence permet de détecter la présence et la localisation de molécules fluorescentes dans un échantillon. Le microscope confocal est une variante permettant de détecter et de réaliser des images de l’échantillon à trois dimensions avec une bonne résolution.

champ sombre et contraste de phase Voir l'article

Microscope à champ sombre et contraste de phase

Les microscopes à champ sombre et contraste de phase permettent d’observer des échantillons transparents.

Microscope polarisant Voir l'article

Microscope polarisant

Le microscope polarisant permet de visualiser et caractériser les échantillons biréfringents.