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Microscope à force atomique

Le microscope à force atomique permet de mesurer la topographie de la surface de la matière jusqu’à la résolution atomique.

Pour cela, une pointe très fine placée au bout d’un bras de levier est approchée et balayée au-dessus de la surface d’un matériau. La surface exerce une force sur cette pointe qui dévie le bras. En mesurant cette déviation, on peut déduire le profil de la surface avec une résolution atomique et obtenir également des informations sur les propriétés élastiques et mécaniques de la surface.

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Microscope à force atomique pour l’observation de nanostructures.
(J. Chatin, Phototheque CNRS)